阿亿

ALPHA-P，紧凑型FTIR光谱仪，用于工业质量控制。

德国埃特林根– 2013年2月–布鲁克推出了一种功能强大的方法，可将以ATR（衰减全反射）模式测量的FTIR光谱自动转换为吸收光谱。

在现代工业质量控制中，大多数FTIR光谱都是通过ATR测量的，因为这种方法需要最少的样品制备。只需将样品（例如粉末，糊剂或液体）放在钻石ATR晶体上，并在几秒钟内进行分析。通常将记录的光谱与参考库进行比较，以识别样品的化学组成。过去，许多深色样品，包括聚合物和其他高炭黑样品，都不太适合钻石或ZnSe ATR。对于这些样品，需要将ATR的附件或晶体至少更换为折射率比金刚石或ZnSe高的锗ATR元素。使用布鲁克的新高级ATR校正方法，不再需要更换ATR晶体。这项最新的高级ATR校正功能已在布鲁克最新版的OPUS 7.2版中实现，该版本已于2013年2月发布，并已在所有光谱仪上实现。与仅校正强度的常规ATR校正算法相比，布鲁克的高级ATR校正还可以校正超出临界角时因异常色散引起的频带失真。使用这种先进的ATR校正方法，可以通过ATR与ZnSe或金刚石制成的标准晶体，从几乎所有深色材料中收集高质量的光谱。

先进的ATR校正功能是可在布鲁克ALPHA-P FTIR光谱仪上使用的强大工具，该光谱仪包括单反射钻石ATR。这种非常紧凑的FTIR系统非常适合在制造，聚合物研究，化学和有机涂料中进行质量控制。使用先进的ATR校正方法，在分析高吸收性材料（例如填充碳的聚合物）时，不再需要更换ATR晶体。对于研发应用，先进的ATR校正方法也可以轻松应用于在布鲁克的TENSOR和VERTEX FTIR光谱仪上收集的数据。